等離子清洗效果檢測設(shè)備有哪些？

文章出處：等離子清洗機(jī)廠家 | 深圳納恩科技有限公司| 發(fā)表時間：2023-04-14

等離子體由正負(fù)帶電粒子和中性粒子組成，是電子、離子、原子、分子以及自由基等離子體組成的集合體，是固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)以外，物質(zhì)的第四種狀態(tài)。用等離子體改性時，將試樣置于等離子清洗機(jī)中，通過高能態(tài)的等離子體轟擊試樣的表面，將能量傳遞給試樣表層的分子，使試樣發(fā)生熱蝕、交聯(lián)、降解和氧化反應(yīng)，產(chǎn)生大量自由基或引進(jìn)某些極性基團(tuán)，從而優(yōu)化試樣表面的性能。

等離子清洗效果檢測設(shè)備有哪些？

經(jīng)過等離子清洗機(jī)清洗過后的產(chǎn)品表面用肉眼是很難分辨是否發(fā)生變化，能否滿足客戶的使用要求，因此需要用一定的檢測手段來表征等離子清洗前后的材料有發(fā)生哪些變化。常見的用來檢測等離子清洗效果的檢測設(shè)備有接觸角測試儀,X射線光電子能譜分析儀,SEM掃描電子顯微鏡,傅里葉變換紅外光譜儀,達(dá)因筆等，下面將進(jìn)行一一介紹。

接觸角測試儀
接觸角測試儀（contactanglemeter）主要用于測量液體對固體的接觸角，即計算在固體表面上的固－液－氣三相交界點處，其氣－液界面和固－液界面兩切線把液相夾在其中時所形成的角。主要用接觸角測試儀測量在等離子處理后表面的接觸角，分析表面親水性的變化。

接觸角測試儀

X射線光電子能譜分析儀
X射線光電子能譜分析（X-ray photo electrons pectroscopy,XPS）是通過X射線照射樣品，使分子以及原子中的內(nèi)層電子或價電子受到激發(fā)形成光電子，光電子的能量可以測量，形成的光電子能譜可以獲得待測物的形成。XPS可通過測定電子的結(jié)合能實現(xiàn)樣品表面的元素定性分析，包括價態(tài)的確定。

X射線光電子能譜分析儀

SEM掃描電子顯微鏡
利用掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）對試樣表面的形貌和成分進(jìn)行分析，其測試的原理是：一束聚焦得非常細(xì)的高能電子束轟擊掃描樣品的表面時，入射的電子將與試樣中的原子發(fā)生相互作用，激發(fā)并反映出試樣表面的形貌、粗糙度、成分以及晶體結(jié)構(gòu)等各種信息。采用掃描電子顯微鏡可以用來表征材料等離子清洗前后的表面形貌變化。

SEM掃描電子顯微鏡

傅里葉變換紅外光譜儀
采用傅里葉變換紅外光譜儀可以分析不同工藝氣體等離子體處理后材料表面官能團(tuán)變化。

傅里葉變換紅外光譜儀

達(dá)因筆
達(dá)因筆嚴(yán)格來說不是儀器，是一種測量材料表面張力的筆。達(dá)因值是表征表面張力或者表面能大小的一個參數(shù)，單位是dyn/cm。達(dá)因值的測量在印刷、涂層、覆膜等應(yīng)用中非常普遍，可反映出材料表面是否容易結(jié)合，一般而言，達(dá)因值越大，材料表面與另一種材料的結(jié)合性能越好。